蔡司X射線顯微鏡Xradia 610
概述：蔡司X射線顯微鏡Versa憑借優(yōu)異的大工作距離高分辨率(RaaD)的特性，成為了全球優(yōu)秀研究人員和科學(xué)家的“有力幫手”。在相對(duì)大工作距離下也能保持高分辨率，有助于產(chǎn)生意義非凡的科學(xué)見(jiàn)解和發(fā)現(xiàn)。隨著當(dāng)今技
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蔡司今天為其行業(yè)先進(jìn)的Xradia Versa系列無(wú)損3D X射線顯微鏡(XRM)及其Xradia Context 3D X射線微計(jì)算機(jī)斷層掃描(microCT)系統(tǒng)推出了Advanced Reconstruction Toolbox。利用內(nèi)部算法和專有工作流程以及高性能工作站，Advanced Reconstruction Toolbox可以顯著提高3D圖像重建的吞吐量和圖像質(zhì)量，這是3D XRM進(jìn)行故障分析(FA)的重要步驟。結(jié)果是更快的結(jié)果交付時(shí)間，提高的FA成功率，甚至是半導(dǎo)體高級(jí)封裝的新應(yīng)用和工作流程。
Advanced Reconstruction Toolbox包含一個(gè)工作站和兩個(gè)模塊產(chǎn)品-用于迭代重建的ZEISS OptiRecon和用于顯微鏡應(yīng)用的首個(gè)商業(yè)化深度學(xué)習(xí)重建技術(shù)ZEISS DeepRecon。
蔡司X射線顯微鏡Versa憑借優(yōu)異的大工作距離高分辨率(RaaD)的特性，成為了全球優(yōu)秀研究人員和科學(xué)家的“有力幫手”。在相對(duì)大工作距離下也能保持高分辨率，有助于產(chǎn)生意義非凡的科學(xué)見(jiàn)解和發(fā)現(xiàn)。隨著當(dāng)今技術(shù)的快速發(fā)展，對(duì)分析儀器也提出了更高的要求，而蔡司Xradia 600 Versa系列就是專為應(yīng)對(duì)這一挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì)的。
蔡司X射線顯微鏡Xradia 610 & 620 Versa采用改進(jìn)的光源和光學(xué)技術(shù)
X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描成像領(lǐng)域面臨的兩大挑戰(zhàn)是：實(shí)現(xiàn)大尺寸樣品和大工作距離下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的兩款X射線顯微鏡憑借以下優(yōu)勢(shì)解決了這些挑戰(zhàn)：系統(tǒng)可提供高功率的X射線源，顯著提高X射線通量，從而加快了斷層掃描速度。工作效率提高達(dá)兩倍，而且不會(huì)影響空間分辨率。同時(shí)，X射線光源的穩(wěn)定性得到提升，使用壽命也更長(zhǎng)。
主要特性包括：
✔zui高空間分辨率500nm，zui小體素40 nm
✔與蔡司Xradia 500Versa系列相比，工作效率提高兩倍
✔更加簡(jiǎn)便易用，包括快速激活源
✔能夠在較大的工作距離下對(duì)更廣的樣品類型和尺寸的樣品進(jìn)行亞微米特征的觀察
更高的分辨率和通量
傳統(tǒng)斷層掃描技術(shù)依賴于單一幾何放大，而蔡司X射線顯微鏡Xradia Versa則將采用光學(xué)和幾何兩級(jí)放大，同時(shí)使用可以實(shí)現(xiàn)更快亞微米級(jí)分辨率的高通量X射線源。
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