板卡高溫85℃環(huán)境試驗服務出具CNAS檢測報告
概述：北京儀綜所實驗室提供各類高精度定位板卡高溫環(huán)境試驗服務、高溫老化試驗、雙85試驗服務、高低溫環(huán)境試驗服務出具國家承認的CNAS檢測報告，做高低溫檢測報告咨詢彭工 136 9109 3503
板卡高溫85℃環(huán)境試驗服務出具CNAS檢測報告，北京儀綜所實驗室提供各類高精度板卡 定向板卡 組合導航板卡 授時板卡以及各類電路板芯片的耐高溫試驗服務、低溫耐受服務、高低溫循環(huán)沖擊試驗服務、隨機振動試驗服務、雙85高溫高濕試驗服務等環(huán)境適應性測試服務。
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實驗室提供專業(yè)高低溫環(huán)境試驗室檢測服務,周期短,費用低,權威性高 一對一專業(yè)定制化服務 全面解決貴司遇到的高低溫環(huán)境試驗檢測難題。
測試內容：
工作溫度：-40℃~+85℃
貯存溫度：-55℃~+125℃
高溫老化：85℃，帶電工作1000h
高溫高濕試驗：溫度85℃，濕度85％RH,通電運行500h.
其他相關檢測項目
定位數(shù)據(jù)輸出頻度
原始觀測量輸出頻度
動態(tài)要求
初始化時間和可靠性
靜態(tài)相位觀測量精度
跟蹤靈敏度
定位精度
高溫工作試驗
低溫工作試驗
低溫貯存試驗
高溫貯存試驗
恒溫恒濕工作試驗
寬帶隨機振動試驗
檢測項目應符合要求判定鑒定檢驗合格，可有一次不合格項的重檢，重檢任未通過的，并確認為該產品自身質量方面的問題，則判定為不合格。
產品質量一致性檢驗應分為逐批檢驗和周期檢驗。
環(huán)境試驗測試標準：
GB/T2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第1部分：試驗方法 低溫
GB/T2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 高溫
GB/T2423.3-2016 電工電子產品環(huán)境試驗 恒定濕熱試驗
GB/T2423.56-2018 電工電子產品環(huán)境試驗 寬帶隨機振動試驗
實驗室屬于國家科研院所檢測機構，具備國家實驗室資質認可CNAS和CMA，可以依據(jù)GB,GJB,IEC,EN等標準進行高低溫環(huán)境試驗第三方檢測服務，并出具國家認可的檢測報告。
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