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74 （2）工件磁化過程中,短少平面方向與磁力線筆直時發作的漏磁場最強,施加磁粉后構成的磁痕明顯,跟著其夾角的增大,漏磁場強度隨之削弱,因此僅一個方向磁化會構成漏檢。一同,磁極端面與受檢表面接觸不良時,將發作很大漏磁場,保證不了受檢表面和近表面滿足的磁場強度,然后下降查看靈敏度。所以本標準規矩穿插磁軛四個磁極端面與受檢表面之間最大空位不跨過1.5㎜，最大行走速度不跨過4m/min。 28.3.3 磁懸液的施加應符合下列規矩： a) 磁懸液濃度應符合27.3.3的規矩。 b) 受檢表面先被磁懸液超卓地濕潤后，才可施加磁懸液。 c) 磁懸液的施加可選用噴、澆方法，不行選用刷涂法。不管選用哪種方法，均不應使查看面上磁懸液的流速過快。 d) 磁懸液必須在通電時間內施加結束，通電時間宜為1～3s。為保證磁化作用應起碼重復磁化兩次，停施磁懸液起碼1s后才可連續磁化。已構成的磁痕不得被活動著的磁懸液所損壞。 磁懸液對受檢表面的濕潤程度、磁懸液的施加方法與機遇均對磁粉查看質量影響很大。因此，本標準保留了原標準此有些的規矩。對熒光磁懸液的施加次第應自上而下進行，以防止查詢布景受污染。 28.3.4 磁痕的查詢 磁痕的查詢應在磁痕構成后立刻進行。 a) 非熒光磁粉查看時，磁痕的查詢應在可見光下進行，工件受檢表面處可見光照度應不小于1000lx；當現場選用便攜式設備查看，因為條件所限無法滿足時，可見光照度可以恰當下降，但不得低于500lx。 熒光磁粉查看時，黑光燈的輻照度和波長應滿足27.1.3的懇求。磁痕的查詢應在較暗的環境里進行，其可見光照度應不大于20lx。 b) 當辯認纖細短少磁痕時，運用5～10倍放大鏡進行查詢。 磁痕閃現的查詢與分析辨別受查詢環境和條件的影響很大，因此本條對磁痕閃現的查詢條件作出了規矩。 原標準規矩非熒光磁粉查看時，工件受檢表面處可見光照度應不小于500lx，而本標準提高到1000lx。一同規矩：當現場條件所限無法滿足時，可見光照度可以恰當下降，但不得低于500lx。 29 復驗 29.1 當出現下列情況之一時，應進行復驗： a) 查看結束時，用標準試片驗證查看靈敏度不符合懇求； b) 發現查看過程中操作方法有誤； c) 對查看作用有爭議； d) 有其它需要。 29.2 復驗應按第28章的懇求進行。 本章保留了原標準的定見。

74 （2）工件磁化過程中,短少平面方向與磁力線筆直時發作的漏磁場最強,施加磁粉后構成的磁痕明顯,跟著其夾角的增大,漏磁場強度隨之削弱,因此僅一個方向磁化會構成漏檢。一同,磁極端面與受檢表面接觸不良時,將發作很大漏磁場,保證不了受檢表面和近表面滿足的磁場強度,然后下降查看靈敏度。所以本標準規矩穿插磁軛四個磁極端面與受檢表面之間最大空位不跨過1.5㎜，最大行走速度不跨過4m/min。 28.3.3 磁懸液的施加應符合下列規矩： a) 磁懸液濃度應符合27.3.3的規矩。 b) 受檢表面先被磁懸液超卓地濕潤后，才可施加磁懸液。 c) 磁懸液的施加可選用噴、澆方法，不行選用刷涂法。不管選用哪種方法，均不應使查看面上磁懸液的流速過快。 d) 磁懸液必須在通電時間內施加結束，通電時間宜為1～3s。為保證磁化作用應起碼重復磁化兩次，停施磁懸液起碼1s后才可中止磁化。已構成的磁痕不得被活動著的磁懸液所損壞。 磁懸液對受檢表面的濕潤程度、磁懸液的施加方法與時機均對磁粉查看質量影響很大。因此，本標準保留了原標準此有些的規矩。對熒光磁懸液的施加次第應自上而下進行，以防止查詢布景受污染。 28.3.4 磁痕的查詢 磁痕的查詢應在磁痕構成后立刻進行。 a) 非熒光磁粉查看時，磁痕的查詢應在可見光下進行，工件受檢表面處可見光照度應不小于1000lx；當現場選用便攜式設備查看，因為條件所限無法滿足時，可見光照度可以恰當下降，但不得低于500lx。 熒光磁粉查看時，黑光燈的輻照度和波長應滿足27.1.3的懇求。磁痕的查詢應在較暗的環境里進行，其可見光照度應不大于20lx。 b) 當辯認纖細短少磁痕時，運用5～10倍放大鏡進行查詢。 磁痕閃現的查詢與分析辨別受查詢環境和條件的影響很大，因此本條對磁痕閃現的查詢條件作出了規矩。 原標準規矩非熒光磁粉查看時，工件受檢表面處可見光照度應不小于500lx，而本標準提高到1000lx。一同規矩：當現場條件所限無法滿足時，可見光照度可以恰當下降，但不得低于500lx。 29 復驗 29.1 當出現下列情況之一時，應進行復驗： a) 查看結束時，用標準試片驗證查看靈敏度不符合懇求； b) 發現查看過程中操作方法有誤； c) 對查看作用有爭議； d) 有其它需要。 29.2 復驗應按第28章的懇求進行。 本章保留了原標準的定見。 對在啥情況下需要復驗和復驗的技術懇求等都作了清楚的規矩，使標準愈加完善。 查看結束時,查看人員運用靈敏度試片對前面的查看作用進行驗證。當電源電壓不堅決較大,設備出現缺陷時,使磁軛提升力下降,致使查看靈敏度下降,驗證時靈敏度試片上的人工缺陷磁痕閃現不清楚或不閃現,則應對在此之前的查看部位進行復驗。查看人員自個或被質量監督人員查看時,發現其未按本標準規矩的操作方法作業,則應對在此之前的一切查看部位進行復驗。 30 查驗標準 30.1 磁痕的分類與記載 30.1.1 磁痕的分類 a) 磁痕閃現分為有關閃現、非有關閃現、偽閃現。非有關閃現和偽閃現不作斷定。 1）有關閃現 由短少發作的磁痕稱為有關閃現。 2）非有關閃現

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