交流阻斷 選購指南
科研院所專用高溫阻斷測試系統
系統概述： 交流阻斷（或反偏）耐久性試驗是在一定溫度下，對半導體器件施加阻斷（或反偏）電壓，按照規定的時間，從而對器件進行質量檢驗和耐久性評估的一種主要試驗方法。 一般情況下，此項試驗是對器件在結溫（Tjm ℃）和規定的交流阻斷電壓或反向偏置電壓的兩應力組合下，進行規定時間的試驗，并根據抽樣理論和失效判定依據，確認是否通過， 同時獲取相關試驗數據。 該系統符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、......
電話：029-86095858 13759984767 楊煒光 
