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抗干擾介質損耗測試儀 中文菜單 數據打印 

一、儀器概況
      KEJSY-A型抗干擾介質損耗測試儀是一種先進的測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于超頻、變頻、工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。
      本測試儀淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，采用變頻技術，故抗干擾能力強，測試時間短等優點。另外，本介質損耗測試儀針對電容式電壓互感器（CVT）試驗困難的特點，增設了外接法測試，外接標準電容器、調壓器，使得測試非常簡單可靠，是我公司第四代智能化抗干擾介質損耗測試儀。
二、技術指標
      1、環境：-5℃～40℃（液晶屏應避免長時間日照）
      2、相對濕度：30％～70％ 
      3、供電電源：電壓：220V±10％，頻率50±Hz 
      4、外形尺寸：長×寬×高=435mm×300mm×300mm
      5、重量：20kg
      6、輸出功率：1KVA
      7、顯示分辨率：3位、4位（內部全是6位） 
      8、測試方法：正接法、反接法、外接法 
      9、測量范圍：內接試驗電壓：≤60000PF     
                           外接試驗電壓：≤10μF
     10、基本測量誤差：介質損耗（tgδ）：1.5％±0.09％ 
                                  電容容量（Cx）：1.0％±2PF
三、儀器結構
      KEJSY-A型抗干擾介質損耗測試儀為升壓與測量一體化結構，輸出電壓2.5KV～10KV五檔可調，以適應各種需要，在測量時無需任何外部設備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。
      圖（一）是儀器面板結構圖，各功能鍵有關使用方法，將在使用方法中具體介紹。
       
                                      圖（一）  介損面板圖
       圖（二）在儀器側部，按一下倉門（PUSH）,將自動打開，為儀器測試接線插孔示意圖，該部位，在儀器工作時將產生高電壓，使用時須小心謹慎。
      
             圖（二）儀器測試接線插孔示意圖
    HV-儀器高壓輸出孔
    CX-測試電流輸入孔
    CN-外接標準電容孔