BKTEM-Dx全自動(dòng)熱電性能分析系統(tǒng)
概述：BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)是一款全新的自動(dòng)化熱電賽貝克系數(shù)測(cè)試儀，該儀器實(shí)現(xiàn)了一體化設(shè)計(jì)，無(wú)需手動(dòng)，電腦軟件上可以直接抽真空，設(shè)置溫度，只要將樣品裝上之后，實(shí)現(xiàn)一鍵式的測(cè)量，電阻率及各個(gè)表格能夠直觀出現(xiàn)，其測(cè)試性能遠(yuǎn)超越國(guó)內(nèi)外熱電材料測(cè)試儀，不僅可以用于塊體材料同時(shí)也可以用于薄材料的測(cè)試，是目前國(guó)內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)備。
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BKTEM-Dx全自動(dòng)熱電性能分析系統(tǒng)
關(guān)鍵詞：熱電材料，Seebeck系數(shù)，電導(dǎo)率， 電阻率，V-1裝置
產(chǎn)品介紹：
BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)是一款全新的自動(dòng)化熱電賽貝克系數(shù)測(cè)試儀，該儀器實(shí)現(xiàn)了一體化設(shè)計(jì)，無(wú)需手動(dòng)，電腦軟件上可以直接抽真空，設(shè)置溫度，只要將樣品裝上之后，實(shí)現(xiàn)一鍵式的測(cè)量，電阻率及各個(gè)表格能夠直觀出現(xiàn)，其測(cè)試性能遠(yuǎn)超越國(guó)內(nèi)外熱電材料測(cè)試儀，不僅可以用于塊體材料同時(shí)也可以用于薄材料的測(cè)試，是目前國(guó)內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)備。
對(duì)于熱電材料的研究，熱電性能測(cè)試是不可或缺的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下:
該裝置由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過(guò)PID程序控溫，采用四點(diǎn)法的方式精確測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出，自動(dòng)出來(lái)測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試報(bào)告。
一、適用范圍：
1、精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。
3、塊體和薄膜材料測(cè)均可以測(cè)試。
4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。
5、擁有自身專(zhuān)利分析軟件，獨(dú)立分析，過(guò)程自動(dòng)控制，界面友好。
6、國(guó)內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。
7、汽車(chē)和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會(huì)誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域。
二、技術(shù)特點(diǎn)：
一體化設(shè)計(jì)，所有參數(shù)直接在電腦上操作，無(wú)須人工干預(yù)
·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問(wèn)題，靜態(tài)法測(cè)量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。
· 溫度檢測(cè)可采用J、K型熱電偶，降低測(cè)試成本。
·試樣采用獨(dú)特的焊偶機(jī)構(gòu)，保證接觸電阻最小以及測(cè)量結(jié)果的高重現(xiàn)性。
· 每次可測(cè)試1-3個(gè)樣品.
· 采用高級(jí)數(shù)據(jù)采集技術(shù)，避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來(lái)的干擾誤差，可控溫場(chǎng)下同步測(cè)量賽貝克系數(shù)和電阻率。
· 采用原裝進(jìn)口的采集儀，測(cè)試報(bào)告自動(dòng)生成。
三：主要技術(shù)：
測(cè)量溫度：室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選
同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量：1個(gè)，2個(gè)，3個(gè) 可選
控溫精度：0.5K（溫度波動(dòng):≤±0.1℃）
升溫速率：0.01 –100K/min，極大得提高測(cè)試時(shí)間
測(cè)量原理：塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；電阻系數(shù)：四端法
測(cè)量范圍：塞貝克系數(shù)：0.5μV/K_25V/K；電阻系數(shù)：0.2Ohm-2.5KOhm
分辨率：塞貝克系數(shù)：10nV/K;電阻系數(shù)： 10nOhm
測(cè)量精度：塞貝克系數(shù)：＜±6％；電阻系數(shù)：＜±5％
樣品尺寸：塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長(zhǎng)，薄膜材料：≥50 nm
熱電偶導(dǎo)距: ≥6 mm
電 流: 0 to 160 Ma
氣 氛：0 to 160 mA
加熱電極相數(shù)/電壓：?jiǎn)蜗啵?20V，
夾具接觸熱阻：≤0.05 m2K/W
圖1 單一樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖
- bjjkzc1發(fā)布的信息
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