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MITSUBISHI探針檢查器 MCP-TRF 1 RMH304 

MCP-T700　低抵抗 抵抗率計

使用

Loresta - GX是一種測量電阻率的測量儀器，它是材料的評估標準之一。

隨著科學技術的研究和開發(fā)，當然，生產(chǎn)技術的發(fā)展，在質(zhì)量管理領域的材料越來越嚴格的精度高，在很短的時間周期的管理，它可以很容易，現(xiàn)在是必要的。其中，存在電阻率（表面，體積，電導率）作為表示材料的狀態(tài)和性質(zhì)的指標。 Loresta-GX是一種可以通過校正因子輕松準確地測量電阻率的設備。

該裝置已成為符合JIS K 7194，導電塑料通過各種探針，ITO膜的測量方法，可以在寬范圍的材料如硅晶片進行測量。

不同于傳統(tǒng)的4端子法，而不需要電極制造要被測量，采用多種4點探針與我們的和是可能電阻率測量與單個觸摸。

主要測量對象

（1）導電塑料，電磁波屏蔽材料，硅片，導電橡膠，

導電漆，漿料，油墨，金屬薄膜，ITO玻璃，薄膜等

特點

必要時，可以在必要時以高精度測量低電阻區(qū)域的表面電阻率，體積電阻率（電阻率）和電導率。

與Loresta GP（10 - 3到107）相比，測量范圍從10 -4擴大到107Ω

可以通過改變電流方向來測量硅晶片

恒流可變功能（可以使用微電流進行樣品測量）

可以使用常規(guī)的Loresta GP探針

2000測量結果可以輸出到USB存儲器

觸摸面板的可用性提高了可操作性

選項

探測器

名稱/型號/產(chǎn)品縮寫概要圖規(guī)格應用

ASP探測器

MCP - TP 03 P.

RMH 110 JIS K 7194兼容

針腳之間：5毫米

針尖：0.37 R×4件

彈簧壓力：210 g /標準探頭，適用范圍廣

ESP探測器

MCP-TP 08 P.

在RMH 114針之間：5毫米

針尖：φ2mm×4

彈簧壓力：240克/不均勻樣品

LSP探測器

MCP-TPLSP

在RMH 116引腳之間：5 mm

針尖：球D 2 mm×4

彈簧壓力：130克/軟樣品

PSP探針

MCP-TP 06 P.

RMH 112引腳之間：1.5 mm

針尖：0.26 R×4件

彈簧壓力：70克/本適用于樣品或薄膜

QP2探針

MCP-TPQP 2

在RMH 119引腳之間：1.5 mm

針尖：0.26 R×4件

彈簧壓力：70克/細樣，方型

BSP探針

MCP-TP 05 P.

RMH 111引腳至引腳：2.5 mm

針尖：0.37 R×4件

彈簧壓力：210克/本

大樣本

注）無法測量電阻率

NSCP探測器

MCP-NSCP

RMJ在202針之間：1.0毫米

針尖：0.04 R×4件

彈簧壓力：250克/硅片

TFP探針

MCP-TFP

RMJ 217針腳之間：1.0 mm

針尖：0.15 R×4件

彈簧壓力：50 g /用于硅片或玻璃基板上的薄膜

AP2探測器

MCP - TPAP 2引腳之間：10 mm

針尖φ2×2

彈簧壓力：240 g /標準2探針探針

注）無法測量電阻率