少子壽命
所有分類下結(jié)果單點(diǎn)少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
PL光致發(fā)光測試系統(tǒng)
[中介]產(chǎn)品介紹:
Helios-PL光致發(fā)光測試系統(tǒng)能夠?qū)Χ喾N太陽能電池少子壽命進(jìn)行快速二維分析，能夠準(zhǔn)確的測量和計(jì)算出電池的缺陷分布及密度，同時(shí)準(zhǔn)確反饋結(jié)果以很好的改進(jìn)電池的生產(chǎn)工藝。
[北京 儀器儀表]
單點(diǎn)少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
PL光致發(fā)光測試系統(tǒng)
[中介]產(chǎn)品介紹:
Helios-PL光致發(fā)光測試系統(tǒng)能夠?qū)Χ喾N太陽能電池少子壽命進(jìn)行快速二維分析，能夠準(zhǔn)確的測量和計(jì)算出電池的缺陷分布及密度，同時(shí)準(zhǔn)確反饋結(jié)果以很好的改進(jìn)電池的生產(chǎn)工藝。
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