低溫工作 選購(gòu)指南
GJB150.4A-2009低溫環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)報(bào)告
GJB150.4A-2009低溫環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)報(bào)告 GJB150.4A低溫試驗(yàn) 低溫環(huán)境試驗(yàn) 低溫貯存試驗(yàn) 低溫工作試驗(yàn) 干冷試驗(yàn) 冰凍試驗(yàn) 極限低溫溫度試驗(yàn)服務(wù) 國(guó)家級(jí)權(quán)威檢測(cè)機(jī)構(gòu) 專(zhuān)業(yè)定制化一對(duì)一低溫環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試技術(shù)服務(wù) 提供中文檢測(cè)報(bào)告或英文檢測(cè)報(bào)告。 低溫試驗(yàn)?zāi)康模? 在于評(píng)價(jià)在貯存，工作和拆卸操作期間，低溫條件對(duì)裝備的安全性，完整性和性能的影響。 低溫試驗(yàn)可能引起的失效： 1、材料的硬化和脆化； 2、對(duì)溫度瞬變響應(yīng)中，不同......
北京電工電子電路板環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)
北京電工電子設(shè)備/電路板環(huán)境篩選試驗(yàn) 我實(shí)驗(yàn)室致力于各類(lèi)電工電子設(shè)備、電路板、板卡、各類(lèi)儀器儀表，測(cè)量?jī)x器等設(shè)備的環(huán)境篩選試驗(yàn)。 環(huán)境篩選試驗(yàn)適用于設(shè)備在設(shè)計(jì)制造完成后進(jìn)行，目的在于考察采用的元器件是否達(dá)到出廠、接收方驗(yàn)收的基本使用條件。一般分為功能性試驗(yàn)、高低溫貯存試驗(yàn)、高低溫工作試驗(yàn)、溫度循環(huán)試驗(yàn)、老煉試驗(yàn)等，具體試驗(yàn)條件可依據(jù)設(shè)備自身及現(xiàn)場(chǎng)安裝環(huán)境、接收方技術(shù)要求以及產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)來(lái)制定。 環(huán)境篩選試驗(yàn)一般采用GJB1032-1990《電子產(chǎn)品環(huán)境......
